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CHOTEST中圖儀器SJ5800接觸式輪廓儀超高精度衍射光學測量系統，具有12mm~24mm的大量程粗糙度測量范圍，分辨率高達0.1nm，系統殘差小于2nm，一次測量同時評定輪廓和粗糙度參數。可以對零件表面的輪廓度、波紋度、粗糙度實現一次掃描測量。

SuperViewW1光學三維形貌輪廓儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點，測量單個精細器件的過程用時2分鐘以內，確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。

針對同類型大批量的工件，SJ5700DUAL智能粗糙度輪廓掃描儀能進行CNC模式測量，自動分析處理數據，并能將數據進行統計帶有SPC功能，能進行多種方式統計分析；還具有導入CAD圖紙，和輸出PDF功能，可以將理論圖紙與實際檢測尺寸結果進行比對，特別是一些不規則的輪廓形狀時，可以提供直觀圖形對比。

SJ5800粗糙度表面輪廓儀集成表面粗糙度和輪廓測量的高精度測量，采用超高精度納米衍射光學測量系統、超高直線度研磨級摩擦導軌、高性能直流伺服驅動系統、高穩定性氣浮隔振系統、高性能計算機控制系統技術，能實現對球面及非球面光學元器件表面粗糙度和輪廓的高精度測量和分析。

SuperView W1系列光學輪廓粗糙度測量儀可對各種產品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進行測量和分析。

光學輪廓儀SuperViewW1集成X、Y、Z三個方向位移調整功能的操縱手柄，可快速完成Z向聚焦、載物臺平移、找條紋等測量前工作。3D重建算法、精密Z向掃描模塊和光學干涉技術組成的測量系統，以及能有效隔離2Hz以上頻率的隔振系統，保證了測量精度和測量重復性。