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Product Category中圖儀器SuperViewW1三維輪廓測(cè)量?jī)x可測(cè)2D/3D輪廓、粗糙度,300余種特征參數(shù),在半導(dǎo)體、精密加工及微納材料等領(lǐng)域可得到廣泛應(yīng)用,如光滑硅晶片表面粗糙度、精密非球面弧面線粗糙度、金字塔型磁頭夾角、微透鏡陣列曲率半徑等。
SJ5718形狀輪廓測(cè)量?jī)x能實(shí)現(xiàn)對(duì)各種工件表面輪廓進(jìn)行測(cè)量和分析。為全自動(dòng)測(cè)量設(shè)備,操作者只需裝好被測(cè)工件,在檢定軟件上設(shè)定掃描的開始、掃描長(zhǎng)度,點(diǎn)擊“開始”按鈕,測(cè)針會(huì)自動(dòng)接觸工件表面,自動(dòng)完成測(cè)量過程。
SJ5700DUAL輪廓粗糙度測(cè)量?jī)x器主要是測(cè)量零件表面的磨加工/精車加工工序的表面加工質(zhì)量,通俗地講,就是零件表面加工得光不光,即粗糙度反映的是零件加工表面的微觀情況。該儀器爬坡能力強(qiáng)、功能豐富,解決復(fù)雜測(cè)量問題,操作卻異常簡(jiǎn)單輕松!
SuperViewW1輪廓表面測(cè)量?jī)x可以達(dá)到納米級(jí)的檢測(cè)精度,并快速獲得被測(cè)工件表面三維形貌和數(shù)據(jù)。可測(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的微觀幾何輪廓、粗糙度、平整度、曲率等,提供依據(jù)ISO/ASME/EUR/GBT四大國(guó)內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)共計(jì)300余種2D、3D參數(shù)作為評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)。
中圖儀器SuperViewW1非接觸式光學(xué)輪廓儀器以白光干涉技術(shù)為原理,能夠以優(yōu)于納米級(jí)的分辨率,測(cè)試各類表面并自動(dòng)聚焦測(cè)量工件獲取2D,3D表面粗糙度、輪廓等一百余項(xiàng)參數(shù),廣泛應(yīng)用于光學(xué),半導(dǎo)體,材料,精密機(jī)械等等領(lǐng)域。是一款非接觸測(cè)量樣品表面形貌的光學(xué)測(cè)量?jī)x器。
SuperViewW1三維輪廓測(cè)量?jī)x器以白光干涉技術(shù)為原理,采用了CCD取代了顯微鏡中的目鏡,可以直接從電腦上實(shí)時(shí)視頻窗口觀察樣品表面形貌,也可以通過重建后的樣品表面3D圖像觀察表面形貌,樣品表面形貌展示得更加清晰,圖像更大,觀察更加方便。
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