晶圓是半導(dǎo)體制造的核心基材,所有集成電路(IC)均構(gòu)建于晶圓之上,其質(zhì)量直接決定芯片性能、功耗和可靠性,是摩爾定律持續(xù)推進(jìn)的物質(zhì)基礎(chǔ)。其中晶圓的厚度(THK)、翹曲度(Warp)和彎曲度(Bow)是直接影響工藝穩(wěn)定性和芯片良率的關(guān)鍵參數(shù):1...
5G行業(yè)發(fā)展如火如荼,5G基站作為移動(dòng)通信無(wú)線電收發(fā)信號(hào)臺(tái),是5G建設(shè)不可少的基礎(chǔ)設(shè)施,濾波器用于5G基站射頻前端模塊中,它負(fù)責(zé)過(guò)濾掉不需要的噪聲,得到有效的信號(hào),從而供后續(xù)芯片處理。濾波器的質(zhì)量缺陷會(huì)直接帶來(lái)5G信號(hào)的問(wèn)題。陶瓷介質(zhì)5G濾...
大量程粗糙度輪廓儀是一種用于工程與技術(shù)科學(xué)基礎(chǔ)學(xué)科、材料科學(xué)、機(jī)械工程領(lǐng)域的物理性能測(cè)試儀器。它采用衍射光柵測(cè)量系統(tǒng)、高精度研磨導(dǎo)軌、高性能非接觸直線電機(jī)、高性能計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)技術(shù),實(shí)現(xiàn)對(duì)工件表面粗糙度和輪廓進(jìn)行測(cè)量和分析。本產(chǎn)品通過(guò)高精度...
引言:從游標(biāo)卡尺到光學(xué)投影儀,從光學(xué)投影儀到影像測(cè)量?jī)x,從影像測(cè)量?jī)x到閃測(cè)儀,每一次測(cè)量工具的推陳出新,都代表著科技的發(fā)展進(jìn)步。閃測(cè)儀,也叫一鍵式測(cè)量?jī)x,其得益于“光學(xué)檢測(cè)技術(shù)+機(jī)器視覺(jué)技術(shù)”的創(chuàng)新及進(jìn)步。工業(yè)尺寸檢測(cè)需求逐年增長(zhǎng)勢(shì)頭強(qiáng)勁,...
狹路相逢勇者勝:中圖測(cè)頭,厚積薄發(fā),敢向進(jìn)口品牌“亮劍”!——我們希望通過(guò)與進(jìn)口品牌PK的方式,獲得客戶認(rèn)可。中圖儀器的機(jī)床測(cè)頭上市以來(lái),已經(jīng)在數(shù)家3C行業(yè)大廠與進(jìn)口品牌展開(kāi)全面的性能比對(duì),獲得客戶認(rèn)可。我們希望、也敢于同進(jìn)口產(chǎn)品進(jìn)行嚴(yán)格的...
這樣的全自動(dòng)閃測(cè)儀,您值得擁有全自動(dòng)閃測(cè)儀取代了傳統(tǒng)XY坐標(biāo)臺(tái)運(yùn)動(dòng)式測(cè)量方式,融入了快速測(cè)量的新理念。通過(guò)將遠(yuǎn)心成像與智能圖像處理軟件的結(jié)合,任何繁瑣的測(cè)量任務(wù),都變得無(wú)比簡(jiǎn)單。只需把工件放置載物臺(tái),然后輕輕按一鍵,工件所有尺寸瞬間完成。導(dǎo)...
SJ6000激光干涉儀平行度測(cè)量是在直線度測(cè)量的基礎(chǔ)上而擴(kuò)展的應(yīng)用。平行度測(cè)量原理平行度測(cè)量由平行軸的兩組直線度測(cè)量組成,參見(jiàn)下面平行度測(cè)量光路原理構(gòu)件圖,其中直線度反射鏡作為共同的參考基準(zhǔn),在測(cè)量過(guò)程中保持原位,且不進(jìn)行調(diào)整。由第1運(yùn)動(dòng)軸...
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